Laboratório de Spintrônica e Nanomagnetismo
Local: sala 104 (CCE).
Telefone: (31) 3612-6293.
Professores responsáveis: Clodoaldo I. L. de Araujo, Joaquim Bonfim Santos Mendes e Sérgio Luis de Abreu Mello.
Página do grupo
Caracterização eletrônica, magnética e magnetorresistiva de dispositivos nanoestruturados. São caracterizados dispositivos protótipos fabricados na própria UFV, em laboratórios parceiros do SISNANO ou nas facilidades dos colaboradores internacionais.
Infra-estrutura
Sistema de Medidas Magnetorresistivas a Baixas Temperaturas e em Ciclo Fechado
O sistema é composto por um criostato Janis resfriado por ciclo fechado de hélio, com potencialidade de medidas estáveis a temperaturas de até 12K, estabelecidas pelo controlador de Temperatura LakeShore 331. O eletroímã GMW alimentado por fonte bipolar de corrente Kepco BOP 20-20, aplica campos magnéticos de até 1 T na amostra que tem sua resistência medida com utilização de eletrômetro, voltímetros e amperímetros de bancada da marca Keithley.
Sistemas de Medidas a Baixas Temperaturas e Altos Campos
O sistema é composto por um criostato Janis armazenado em um Dewer, com potencialidade de alcance de temperaturas de até 0,9 K, quando auxiliado por bombeamento. Este equipamento conta com bobina supercondutora para aplicação de campos magnéticos de até 5 T. O equipamento está sendo montado para realização de medidas de transporte em supercondutores, isolantes topológicos e isolantes ferromagnéticos.
Probe Station para Medida de Nanodispositivos
O equipamento conta com pontas condutivas acopladas a micrômetros para ajuste fino nos eixos xyz. Estas pontas são utilizadas para contatos em áreas de aproximadamente 50 µm. Isto é possível pela utilização do microscópio ótico acoplado e do estágio motorizado do porta-substrato. Neste equipamento são realizadas medidas elétricas e magnetorresistivas de microchips protótipos.
Microscópio de Efeito Kerr (MOKE)
Este equipamento se vale do efeito de rotação da polarização da luz pela magnetização da amostra. Através da aplicação de campos magnéticos externos por eletroímãs é possível obter a curva de histerese das amostras. Atualmente o equipamento está sendo montado sobre uma mesa ótica e adaptado para modalidade de MOKE focalizado, para medidas independentes em nanoestruturas.
